Metody a řešení testování elektronických součástek ve vývoji a výrobě
nahrávám mapu....
Datum a čas
16. 3. 2016
09:50 - 10:20
Místo
Výstaviště Brno
Česká republika
Typ události
V přednášce budou představeny různé metody testování elektronických součástek od základních pasivních prvků jako jsou odpory, kondenzátory či cívky až po výkonové polovodičové komponenty. Posluchači získají návod jak zvolit vhodné testovací zařízení pro svoji aplikaci a jakých přesností a výsledků lze v praxi dosáhnout.
Přednášející: Ing. Adam Pavliš, H TEST a.s.
Přednáška se uskuteční 16.3.2016 mezi 9:50 a 10:20 v pavilonu P – sále P4 v rámci semináře „Elektronické součástky a aplikace“.
