Elektrické testování A/D IC s použitím automatického testovacího zařízení
nahrávám mapu....
Datum a čas
21. 3. 2016
13:00
Místo
Ústav Radioelektroniky
Česká republika
Typ události
Seminář Ústavu radioelektroniky.
Přednášejícím Luděk Chyba ze společnosti ON Semiconductor.
