Elektrické testování A/D IC s použitím automatického testovacího zařízení

nahrávám mapu....

Datum a čas
21. 3. 2016
13:00

Místo
Ústav Radioelektroniky
Česká republika

Typ události


Seminář Ústavu radioelektroniky.

Přednášejícím Luděk Chyba ze společnosti ON Semiconductor.

Více zde.

 

Přidat komentář

Vaše emailová adresa nebude zveřejněna. Vyžadované informace jsou označeny *